Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular

dc.contributor.advisor-co1Munford, Maximiliano Luis
dc.contributor.advisor-co1Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4791596H8por
dc.contributor.advisor-co2Couto, Marcos da Silva
dc.contributor.advisor-co2Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4781688P4por
dc.contributor.advisor1Ferreira, Sukarno Olavo
dc.contributor.advisor1Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4786429E5por
dc.contributor.authorSilva, Saimon Filipe Covre da
dc.contributor.authorLatteshttp://lattes.cnpq.br/4389754693071732por
dc.contributor.referee1Anjos, Virgilio de Carvalho dos
dc.contributor.referee1Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4782111Y6por
dc.contributor.referee2Carvalho, Alexandre Tadeu Gomes
dc.contributor.referee2Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4787153D2por
dc.date.accessioned2015-03-26T13:35:19Z
dc.date.available2013-11-20
dc.date.available2015-03-26T13:35:19Z
dc.date.issued2012-07-20
dc.description.abstractEste trabalho consiste na caracterização ótica de filmes de CdMnTe crescidos sobre substratos de vidro. Os filmes foram depositados pela técnica de epitaxia por feixe molecular (MBE) e caracterizados através de espectroscopia ótica e elipsometria. Foram determinados parâmetros como gap dos filmes em função da concentração de manganês. Podemos comprovar o aumento do gap com o aumento da concentração de manganês. As franjas de interferência nos mostram a boa qualidade dos filmes crescidos. Através da técnica de elipsometria podemos observar o comportamento do índice de refração e do coeficiente de extinção em função da concentração de manganês. Foram obtidos também os valores da espessura e taxa de crescimento dos filmes.pt_BR
dc.description.abstractThis work consists of the optical characterization of CdMnTe films grown on glass substrate. The films were deposited by the technique of molecular beam epitaxy (MBE) and characterized by optical spectroscopy and ellipsometry. The energy gap for films with different manganese concentration was determined. We demonstrate the increase in gap energy as concentration of manganese increases. The pronounced interference fringes observed show the good optical quality of the films grown. By ellipsometry technique we can observe the behavior of the refractive index and extinction coefficients a function of manganese concentration. We have also obtained values of sample thickness and growth rate.eng
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior
dc.formatapplication/pdfpor
dc.identifier.citationSILVA, Saimon Filipe Covre da. Optical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy technique. 2012. 81 f. Dissertação (Mestrado em Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.) - Universidade Federal de Viçosa, Viçosa, 2012.por
dc.identifier.urihttp://locus.ufv.br/handle/123456789/4259
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal de Viçosapor
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.departmentFísica Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.por
dc.publisher.initialsUFVpor
dc.publisher.programMestrado em Física Aplicadapor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectCaracterização óticapor
dc.subjectEpitaxiapor
dc.subjectMBEpor
dc.subjectElipsometriapor
dc.subjectCdMnTepor
dc.subjectOptical characterizationeng
dc.subjectEpitaxyeng
dc.subjectMBEeng
dc.subjectEllipsometryeng
dc.subjectCdMnTeeng
dc.subject.cnpqCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADApor
dc.titleCaracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecularpor
dc.title.alternativeOptical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy techniqueeng
dc.typeDissertaçãopor

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