Regressão aleatória Bayesiana para avaliação genética da resistência ao mal das folhas em seringueiras

Abstract

O mal das folhas causado pelo fungo Microcyclus ulei é a doença mais séria dos seringais da América Latina. Com o objetivo de identificar clones de seringueira mais resistentes em diferentes ambientes ao longo do tempo, compararam-se diferentes modelos de regressão aleatória (MRA) ajustados via abordagem Bayesiana. Oito clones foram testados em campos clonais no delineamento em blocos completos casualizados com quatro repetições, utilizando-se 80 árvores por parcela. As duas fileiras centrais foram avaliadas a cada dois meses em relação às variáveis severidade (SEV) e índice de estroma em folha adulta (EFA). Foram incluídas como covariáveis nos modelos a circunferência do tronco e as variáveis climáticas de cada campo clonal. Os MRA foram comparados por meio do critério DIC (Deviance Information Criterion). O modelo M2 (que assumiu os efeitos aleatórios quadrático para clone e linear para planta) foi o melhor (menor valor de DIC) para descrever SEV e EFA em todas as localidades consideradas. Tal modelo permitiu inferir que os clones FDR 5788, CDC312 e CDC56 apresentaram maior resistência, enquanto o clone FX 3864 foi o que apresentou a maior suscetibilidade, em todas as localidades consideradas.

This model enabled also to infer that the clones FDR 5788, CDC312 and CDC56 presented high resitance, while the colne FX 3864 was the most susceptible in all studied locals. South American leaf blight caused by the fungus Microcyclus ulei is the most serious disease of rubber plantations in Latin America. With the aim of identifying more resistant rubber-tree clones in various environments over time, different random regression models (MRA) adjusted via a Bayesian approach were compared. Eight clones were tested in clonal fields in a randomised complete block design with four replications, using 80 trees per lot. The two central rows were evaluated every two months for the variables severity (SEV) and stroma index of the adult leaf (EFA). Trunk circumference and the climatic variables of each clonal field were included in the models as covariates. The MRA were compared by the deviance information criterion (DIC). The M2 model (which assumed quadratic random effects for clones and linear effects for plants) was the best (lower values for DIC) in describing the SEV and EFA in all the locations being considered. Such a model suggests that the FDR 5788, CDC312 and CDC56 clones displayed greater resistance, while the FX 3864 clone displayed the highest susceptibility in all considered locations.